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代理日本品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、東機產業(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE岩崎(UV汞燈)、索尼克(風速計、流量計等)、阪口電熱(加熱器、製冷片)、NEWKON新光(針孔機)、富士端子(各種形狀端子,料多可定製)、NS精密科學(柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵)

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QVH302P1L-E QVH404P1L-E QVH606P1L-E 高分解能、高精度スケールを搭載した高精度モデルです。 測定物に瞬時にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設定、大幅なスループット向上が可能です。 XY本體駆動とストロボ照明を同期させることにより、ステージが停止しないノンストップ畫像測定を行い、圧倒的に測定時間を短縮できるストリーム機能を裝備することが可能です。 汎用性の高い白色LED照明モデルとエッジ検出能力を高めたRGBカラーLED 照明をラインアップしました。 測定機本體溫度センサと測定物溫度センサを用いた自動溫度補正機能を標準搭載しています。
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QV-U404P1N-D QV-U404T1N-D 光學レンズで測定物を拡大撮像。軽薄短小な電子半導體部品、微小な精密加工品醫療機器部品などの測定に有用性を示します。 非接觸測定のため、測定物へのダメージの恐れがありません。清浄度が求められる電子半導體部品、樹脂成形品などの軟質物、プレス成形品などの薄物の測定に適しています。 培われた畫像処理技術と高速ステージ製禦による高スルー
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QV-U404P1N-D QV-U404T1N-D 光學レンズで測定物を拡大撮像。軽薄短小な電子半導體部品、微小な精密加工品醫療機器部品などの測定に有用性を示します。 非接觸測定のため、測定物へのダメージの恐れがありません。清浄度が求められる電子半導體部品、樹脂成形品などの軟質物、プレス成形品などの薄物の測定に適しています。 培われた畫像処理技術と高速ステージ製禦による高スループット測定が可能。測定項目が多い、あるいは量産される測定物の工程管理に適しています。 高精度な非接觸高さ測定が可能です高性能な畫像オートフォーカスや非接觸変位センサにより、高精度な高さ測定が可能です。 タッチトリガープローブとの併用で、測定物を回転させずに任意の高さで側麵も測定でき、従來は困難であった立體物の測定も可能です。 QVシリーズは高性能畫像オートフォーカスを標準裝備しており、畫像オ
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QV-L202Z1L-D QV-L404Z1L-D QVT1-L202Z1L-D QVT1-L404Z1L-D 機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC畫像測定機です。 カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。 タッチプローブ搭載機は、非接觸と接觸測定をシームレスに実現しました。 ズーム比7倍(対物レンズ交換による*大ズーム比14倍)により
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QV-L202Z1L-D QV-L404Z1L-D QVT1-L202Z1L-D QVT1-L404Z1L-D 機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC畫像測定機です。 カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。 タッチプローブ搭載機は、非接觸と接觸測定をシームレスに実現しました。 ズーム比7倍(対物レンズ交換による*大ズーム比14倍)により
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QV-L202Z1L-D QV-L404Z1L-D QVT1-L202Z1L-D QVT1-L404Z1L-D 機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC畫像測定機です。 カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。 タッチプローブ搭載機は、非接觸と接觸測定をシームレスに実現しました。 ズーム比7倍(対物レンズ交換による*大ズーム比14倍)により
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QV-L202Z1L-D QV-L404Z1L-D QVT1-L202Z1L-D QVT1-L404Z1L-D 機能を凝縮したコストパフォーマンスに優れるCNC畫像測定機です。 カラーカメラと交換式ズームレンズ採用により使い勝手が向上しました。 タッチプローブ搭載機は、非接觸と接觸測定をシームレスに実現しました。 ズーム比7倍(対物レンズ交換による*大ズーム比14倍)により、低倍での観察、簡易測定から、高倍での微細測定まで幅広く対応可能です。 74 mmの作動距離で衝突の不安を和らげ、測定ワークや治具設計の自由度が広がり安心して測定できます。(対物レンズZ-Objective 1×裝著時)
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QV-X302P1L-E QV-X404P1L-E QV-X606P1L-E ストロボスナップ機能が標準搭載され、高速測定が可能となったクイックビジョンの上位モデルです。 測定物に瞬時にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設定、大幅なスループット向上が可能です。 XY本體駆動とストロボ照明を同期させることにより、ステージが停止しないノンストップ畫像測定を行
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QV-X302P1L-E QV-X404P1L-E QV-X606P1L-E ストロボスナップ機能が標準搭載され、高速測定が可能となったクイックビジョンの上位モデルです。 測定物に瞬時にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設定、大幅なスループット向上が可能です。 XY本體駆動とストロボ照明を同期させることにより、ステージが停止しないノンストップ畫像測定を行い、圧倒的に測定時間を短縮できるストリーム機能を裝備することが可能です。 QV-X302P1L-E QV-X404P1L-E QV-X606P1L-E ストロボスナップ機能が標準搭載され、高速測定が可能となったクイックビジョンの上位モデルです。 測定物に瞬時にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設定、大幅なスループット向上が可能で
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ストロボスナップ機能が標準搭載され、高速測定が可能となったクイックビジョンの上 QV-X302P1L-E QV-X404P1L-E QV-X606P1L-E ストロボスナップ機能が標準搭載され、高速測定が可能となったクイックビジョンの上位モデルです。 測定物に瞬時にピント合わせが可能なトラッキングオートフォーカス搭載モデルを設定、大幅なスループット向上が可能です。 XY本體駆動とストロボ照明を同期させることにより、ステージが停止しないノンストップ畫像測定を行い、圧倒的に測定時間を短縮できるストリーム機能を裝備することが可能です。
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PJ-P1010 PJ-H30A1010B PJ-H30A2010B PJ-H30A1017B PJ-H30A3017B PJ-H30D1010B PJ-H30D2010B PJ-H30D2017B PJ-H30D3017B 未経験者でも “直感的に扱える“ 投影機の特長を生かしつつ「照明光源LED化」「冷卻ファンレス化」により、高耐久性・省エネ性に優れた測定投影機。 製造加工現場といった従來よりも本體にとって悪い環境に一歩踏み込んだ場所でも、安定した寸法測定や角度測定を提供。 無段階ボリューム調光:従來2段階調光であった照明を、無段階ボリューム調光に変更しました。弱い光から強い光まで多様な照明光を作り出すことが可能となり、被検物の表麵性狀や色に応じて適度な照度で照射できるようになりました。 視認性の高いデジタル表示:全機種標準內
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PJ-H30A1010B PJ-H30A2010B PJ-H30A1017B PJ-H30A3017B PJ-H30D1010B PJ-H30D2010B PJ-H30D2017B PJ-H30D3017B JIS規格 B 7184:1999 [測定投影機] に準拠。 (3.0+0.02L)μmの高精度を実現したハイエンドモデル。 φ306mmスクリーンと
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PJ-H30A1010B PJ-H30A2010B PJ-H30A1017B PJ-H30A3017B PJ-H30D1010B PJ-H30D2010B PJ-H30D2017B PJ-H30D3017B JIS規格 B 7184:1999 [測定投影機] に準拠。 (3.0+0.02L)μmの高精度を実現したハイエンドモデル。 φ306mmスクリーンと
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PJ-H30A1010B PJ-H30A2010B PJ-H30A1017B PJ-H30A3017B PJ-H30D1010B PJ-H30D2010B PJ-H30D2017B PJ-H30D3017B JIS規格 B 7184:1999 [測定投影機] に準拠。 (3.0+0.02L)μmの高精度を実現したハイエンドモデル。 φ306mmスクリーンと
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PJ-H30A1010B PJ-H30A2010B PJ-H30A1017B PJ-H30A3017B PJ-H30D1010B PJ-H30D2010B PJ-H30D2017B PJ-H30D3017B JIS規格 B 7184:1999 [測定投影機] に準拠。 (3.0+0.02L)μmの高精度を実現したハイエンドモデル。 φ306mmスクリーンと
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PJ-H30A1010B PJ-H30A2010B PJ-H30A1017B PJ-H30A3017B PJ-H30D1010B PJ-H30D2010B PJ-H30D2017B PJ-H30D3017B JIS規格 B 7184:1999 [測定投影機] に準拠。 (3.0+0.02L)μmの高精度を実現したハイエンドモデル。 φ306mmスクリーンと