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  • 可檢測單線態氧(活性氧)
  • 可以立即測量優良量子效率(優良量子產率)。與粉末、溶液、固體(薄膜)和薄膜樣品兼容。低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區的雜散光。此外,通過采用積分半球單元,可以實現明亮的光學係統,並通過利用這一點重新激發熒光校正,可以進行高精度的測量。此外,QE-2100 能夠測量量子效率的溫度依賴性,並支持從紫外到近紅外的寬波長範圍。
  • ELSZneo通過光散射評估物理特性     進入新階段]這是 ELSZ 係列的*高型號,可測量稀溶液至濃溶液中的 zeta 電位和粒徑以及分子量。作為一項新功能,kb88凯时采用了多角度測量來提高粒度分布的分離能力。它還支持粒子濃度測量、微流變學測量和凝膠網絡分析。 新型 zeta 電位板單元具有新開發的高鹽濃度塗層,可在生理鹽水等高鹽濃度環境中進行測量。kb88凯时還有一係列超痕量細胞單元,可以測量 3 μL 的粒徑,擴展了生命科學領域的可能性。
  • 除了常規的zeta電位和粒度測量之外,它是一種可以用稀到濃溶液測量分子量的設備。 支持粒度測量範圍(0.6 nm 至 10 μm)和濃度範圍(0.00001% 至 40%)。可以使用*小容量為 130 μL 或更大的一次性電池進行測量,通過實際測量電滲流,可以實現高精度的 zeta 電位測量。 此外,通過在 0 至 90°C 的寬溫度範圍內自動進行溫度梯度測量,可以進行變性/相變溫度分析。
  • 日本大塚高感度分光放射亮度儀HS-1000 日本大塚高感度分光放射亮度儀HS-1000 日本大塚高感度分光放射亮度儀HS-1000
  • 日本大塚高速配光測量係統GP-7 日本大塚高速配光測量係統GP-7 日本大塚高速配光測量係統GP-7
  • 日本大塚分光配光測量係統GP-4000 日本大塚分光配光測量係統GP-4000 日本大塚分光配光測量係統GP-4000
  • 日本大塚分光配光測量係統GP-2000 日本大塚分光配光測量係統GP-2000 日本大塚分光配光測量係統GP-2000
  • 日本大塚分光配光測量係統GP-1100 日本大塚分光配光測量係統GP-1100 日本大塚分光配光測量係統GP-1100
  • 日本大塚分光配光測量係統GP-500 日本大塚分光配光測量係統GP-500 日本大塚分光配光測量係統GP-500
  • 日本大塚高速LED光學特性儀 LE-SERIES-LE-5400 日本大塚高速LED光學特性儀 LE-SERIES-LE-5400 日本大塚高速LED光學特性儀 LE-SERIES-LE-5400
  • 日本大塚全光束測量係統 HM-SERIES 日本大塚全光束測量係統 HM-SERIES 日本大塚全光束測量係統 HM-SERIES
  • 日本大塚全光束測量係統 FM-SERIES 日本大塚全光束測量係統 FM-SERIES 日本大塚全光束測量係統 FM-SERIES
  • 日本大塚高速近場配光測量係統RH50 日本大塚高速近場配光測量係統RH50 日本大塚高速近場配光測量係統RH50
  • 日本大塚高速近場配光測量係統RH1000 日本大塚高速近場配光測量係統RH1000 日本大塚高速近場配光測量係統RH1000
  • 日本大塚高速近場配光測量係統RH600 日本大塚高速近場配光測量係統RH600 日本大塚高速近場配光測量係統RH600
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