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產品詳情
簡單介紹：
實現具有波長依賴性的高精度多層膜測量
詳情介紹：
- 使用光譜幹涉法的薄膜厚度計
- 配備高精度FFT膜厚分析引擎？（磚利號4834847）
- 光纖可構建自由測量係統
- 可並入各種製造設備
- 可實時測量膜厚
- 支持遠程控製和多點測量
- 采用長壽命、高穩定性的白光 LED 光源
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